빠른 전자를 물체에 충돌시킬 때 방출되는 복사선을 X선(X-ray)이라고 합니다.X선은 자외선보다 짧고 감마선보다 파장이 긴 0.01 nm ~10 nm에 속하는 전자기파로 빛 처럼 직진하여 물체 내를 잘 투과하는 성질을 가지고 있습니다.

XRF는 이러한 X선을 이용하여 성질을 이용하여 금속 및 광물의 성분을 결정하는 분석 방법입니다.강력한 X선 또는 감마선을 고체 또는 액체 시료에 조사하면 원자 궤도 안쪽에 있는 전자가 방출되면서,바깥쪽에 있는 전자가 그 빈자리로 떨어집니다.이때 두 전자의 에너지 차이에 해당하는 2차X선(형광 X선)이 방출됩니다. 이 방출된 엑스 선의 에너지는 원소마다 고유한 값을 가지고 있어 물질의 성분(정성)이나 성분비(정량)를 알아낼 수 있습니다.

- 형광 X선의 원리를 이용한 비접촉,비파괴 분석

- 다수의 용존 원소를 동시에 분석

- ppm에서 %까지 전 범위 농도 측정

- 시료 전처리 불필요

- 비전문가도 운영할 수 있는 간단한 작동법

- 소모품 및 시약 불필요

XRF를 이용하여 주기율표의알루미늄(Al)에서U (우라늄)까지측정가능합니다.

- Zn, Cu, Cr, Ni, Fe 도금액 중 금속 성분 분석

- Sn& Cu 도금액 분석

- Pickling 용액 중 Fe 분석

- As제거 공정 중 As분석